afholdes af Dansk Fundamental Metrologi og FORCE Technology
Nanoteknologi er ikke længere kun en forskningsdisciplin uden håndgribelige produkter. Nanoteknologien får større og større betydning for alle i hverdagen, det være sig f.eks. i telekommunikationsudstyr, i værktøjer med specielle overfl adeegenskaber og overfladestrukturer, samt ved selvrensende overfl ader på f.eks. gulve og vinduer.
På denne temadag vil virksomheder, der beskæftiger sig med spændende og vidt forskellig anvendelse af nanoteknologi, give eksempler på hvorledes nanoteknologierne inddrages i moderne produktioner og produkter.
Tilsvarende vil videninstitutioner præsentere avancerede måle- og analysemetoder, der kan anvendes til at karakterisere disse nano-produktionsmetoder og materialer, med henblik på bl.a. kvalitetssikring og innovativt udviklingspotentiale.
Samarbejdet indenfor området ”indlejrede mikro- og nanostrukturer” er de seneste par år forløbet mellem en række danske virksomheder og videnscentre i et Innovationskonsortium. Eksempler på resultater herfra vil også blive fremlagt.
9:00 Registrering og posterudstilling
Kaffe og morgenbrød
10:00 Velkomst og indledning
Poul-Erik Hansen, Dansk Fundamental Metrologi
10:10 Nanoteknologi - perspektiver og anvendelse
En generel orientering om nogle af nanoteknologiens anvendelsesområder
Britt Hvolbæk Larsen, Centerleder, Nano•DTU
10:35 Nanoteknologiske slidbeskyttende belægninger
Industriel anvendelse og fremstilling af PVD(Physical Vapour Deposition)-belægninger, samt karakteriseringsbehov.
Niels Jørgen Mikkelsen, CemeCon Scandinavia A/S
11:00 Selvrensende overfl ader
Anvendelse af indlejrede nanopartikler i materialer med henblik på fotokatalytiske og selvrensende effekter.
Theis Reenberg, Photocat
11:25 På opdagelse i nanokosmos
Afbildning af materialer i nanoskala ved anvendelse af AFM (Atomic Force Microscopy) og FIB-SEM
(Focused Ion Beam – Scanning Electron Microscopy).
Jørgen Garnæs, Dansk Fundamental Metrologi & Jacob B. Markussen, FORCE Technology.
11:50 Frokost
(med efterfølgende mulighed for at se posterudstillingen)
12:50 Matematisk modellering som et redskab for udvikling af nanoteknologier
Ved at udnytte den computer teknologiske udvikling kan matematisk modellering som værktøj give
vigtig indsigt mht. nanomaterialer virkemåde i tekniske og fysiske systemer.
Mads Peter Sørensen, Institut for Matematik, DTU
13:15 Nanomåleteknik i optisk komponentproduktion
Funktion og anvendelse af bølgeledere i telenettet, samt karakteriseringsbehov.
Yueqiang Shen, Ignis Photonyx
13:40 Hvordan måles det usynlige?
Praktiske eksempler på hvordan mikroskoper måler den tilsyneladende usynlige struktur af et emnes
overfl ade og indre struktur (ved anvendelse af optisk diffraktion og AFM).
Poul-Erik Hansen & Kai Dirscherl, Dansk Fundamental Metrologi
14:20 Nye og gamle funktionelle nanomaterialer
Eksempler på nanomaterialers funktionalitet herunder diverse karakteriseringsmuligheder
Per Morgen, Institut for Fysik og Kemi, Syddansk Universitet.
Evaluering og afrunding
Ansvarlig kontaktperson: