DanskDTU.dkIndexContactPhone bookDTU AlumniPortalen
/upload/institutter/com/forside/toptekster/dtu-fotonik-uk.jpg
Technical University of Denmark
Technical University of Denmark

Seminar

Nanoteknologi i arbejdstøjet


afholdes af Dansk Fundamental Metrologi og FORCE Technology

 

Nanoteknologi er ikke længere kun en forskningsdisciplin uden håndgribelige produkter. Nanoteknologien får større og større betydning for alle i hverdagen, det være sig f.eks. i telekommunikationsudstyr, i værktøjer med specielle overfl adeegenskaber og overfladestrukturer, samt ved selvrensende overfl ader på f.eks. gulve og vinduer.

 

På denne temadag vil virksomheder, der beskæftiger sig med spændende og vidt forskellig anvendelse af nanoteknologi, give eksempler på hvorledes nanoteknologierne inddrages i moderne produktioner og produkter.

 

Tilsvarende vil videninstitutioner præsentere avancerede måle- og analysemetoder, der kan anvendes til at karakterisere disse nano-produktionsmetoder og materialer, med henblik på bl.a. kvalitetssikring og innovativt udviklingspotentiale.

 

Samarbejdet indenfor området ”indlejrede mikro- og nanostrukturer” er de seneste par år forløbet mellem en række danske virksomheder og videnscentre i et Innovationskonsortium. Eksempler på resultater herfra vil også blive fremlagt.

 

 

9:00 Registrering og posterudstilling

Kaffe og morgenbrød

 

10:00 Velkomst og indledning

Poul-Erik Hansen, Dansk Fundamental Metrologi

 

10:10 Nanoteknologi - perspektiver og anvendelse

En generel orientering om nogle af nanoteknologiens anvendelsesområder

Britt Hvolbæk Larsen, Centerleder, Nano•DTU

 

10:35 Nanoteknologiske slidbeskyttende belægninger

Industriel anvendelse og fremstilling af PVD(Physical Vapour Deposition)-belægninger, samt karakteriseringsbehov.

Niels Jørgen Mikkelsen, CemeCon Scandinavia A/S

 

11:00 Selvrensende overfl ader

Anvendelse af indlejrede nanopartikler i materialer med henblik på fotokatalytiske og selvrensende effekter.

Theis Reenberg, Photocat

 

11:25 På opdagelse i nanokosmos

Afbildning af materialer i nanoskala ved anvendelse af AFM (Atomic Force Microscopy) og FIB-SEM

(Focused Ion Beam – Scanning Electron Microscopy).

Jørgen Garnæs, Dansk Fundamental Metrologi & Jacob B. Markussen, FORCE Technology.

 

11:50 Frokost

(med efterfølgende mulighed for at se posterudstillingen)

 

12:50 Matematisk modellering som et redskab for udvikling af nanoteknologier

Ved at udnytte den computer teknologiske udvikling kan matematisk modellering som værktøj give

vigtig indsigt mht. nanomaterialer virkemåde i tekniske og fysiske systemer.

Mads Peter Sørensen, Institut for Matematik, DTU

 

13:15 Nanomåleteknik i optisk komponentproduktion

Funktion og anvendelse af bølgeledere i telenettet, samt karakteriseringsbehov.

Yueqiang Shen, Ignis Photonyx

 

13:40 Hvordan måles det usynlige?

Praktiske eksempler på hvordan mikroskoper måler den tilsyneladende usynlige struktur af et emnes

overfl ade og indre struktur (ved anvendelse af optisk diffraktion og AFM).

Poul-Erik Hansen & Kai Dirscherl, Dansk Fundamental Metrologi

 

14:20 Nye og gamle funktionelle nanomaterialer

Eksempler på nanomaterialers funktionalitet herunder diverse karakteriseringsmuligheder

Per Morgen, Institut for Fysik og Kemi, Syddansk Universitet.

 

Evaluering og afrunding


Contact: 


TopBack
Date
11.11.09
Time: 09:00
Responsible
Force og DFM
Location
Park Alle 345, 2605 Brøndby
Oersteds PladsBuilding 343DK- 2800 Kgs. LyngbyTel +45 4525 6352EAN 5798000430341